Ключевые слова: HTS, coated conductors, fabrication, buffer layers, IBAD process, microstructure
Arendt P.N., Foltyn S.R., Wang H., DePaula R.F., Stan L., Groves J.R., Holesinger T.G., Civale L., Maiorov B., Usov I.O., Li Y.L.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.